ISO 14606:2000

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 2000-10
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 201/SC 4
    Depth profiling
  • 71.040.40
    Chemical analysis

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • В настоящее время отменен
    ISO 14606:2000
  • Пересмотрен
    ISO 14606:2015

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах

 Subscribe