недоступно на русском языке

Тезис Предпросмотр

ISO 13696:2002 specifies procedures for the determination of the total scattering by coated and uncoated optical surfaces. Procedures are given for measuring the contributions of the forward scattering and backward scattering to the total scattering of an optical component.

ISO 13696:2002 applies to coated and uncoated optical components with optical surfaces that have a radius of curvature of more than 10 m. The wavelength range includes the ultraviolet, the visible and the infrared spectral regions.


Общая информация

  • Текущий статус :  Published
    Дата публикации : 2002-07
    Исправленный вариант (английский) : 2004-08
    Исправленный вариант (Французский) : 2004-08
  • Версия : 1
    Число страниц : 26
  • :
    ISO/TC 172/SC 9
    Laser and electro-optical systems
  • 31.260
    Optoelectronics. Laser equipment

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF
Бумажный
  • CHF118

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

  • Сейчас на стадии пересмотра
    ISO 13696:2002
  • Будет заменено
    ISO/AWI 13696

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах