Тезис 

Describes the metrological characteristics of phase correct filters for the measurement of surface profiles. In particular it specifies how to separate the long and short wave content of a surface profile.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 1996-12
  • Версия : 1
    Число страниц : 8
  • :
    ISO/TC 213
    Dimensional and geometrical product specifications and verification
  • 17.040.20
    Properties of surfaces

Жизненны цикл

Стандарт, который пересматривается каждые 5 лет



Изменения / Исправления

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах