Тезис 

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.


Общая информация

  • Текущий статус :  Withdrawn
    Дата публикации : 1993-08
  • Версия : 1
  • :
    ISO/TC 171/SC 2
    Document file formats, EDMS systems and authenticity of information
  • 37.080
    Document imaging applications

Жизненный цикл


Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

Будьте в курсе актуальных новостей ИСО

Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.