Это стандарт пересмотренISO 6342:2003
Тезис
The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.
Общая информация
-
Текущий статус : WithdrawnДата публикации : 1993-08
-
Версия : 1
-
Технический комитет:Document file formats, EDMS systems and authenticity of information
-
- ICS :
-
Document imaging applications
Появились вопросы?
Ознакомьтесь с FAQ
Работа с клиентами
+41 22 749 08 88
Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)
Будьте в курсе актуальных новостей ИСО
Подписывайтесь на наши новости, обзоры, а также на информацию о продуктах.