Tema de trabajo aprobado
ISO/AWI 20171
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Tagged image file format for scanning electronmicroscopy (TIFF/SEM)
Reference number
ISO/AWI 20171
Edition 1
© ISO 2026
Tema de trabajo aprobado
En desarrollo
Un grupo de trabajo ha preparado un borrador.

Resumen

This document specifies a platform-independent data file format for digital images generated by a scanning electron microscope (SEM) by adapting the TIFF based format.

Informaciones generales

  • Estado
     : En desarrollo
    Etapa
    : Nuevo proyecto registrado en el programa de trabajo TC/SC [20.00]
  • Edición
     : 1
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 4
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
Industry, Innovation and Infrastructure

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