International Standard
ISO 17297:2025
Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary
Reference number
ISO 17297:2025
Edition 1
2025-05
© ISO 2026
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No disponible en español
Publicado (Edición 1, 2025)

ISO 17297:2025

Idioma
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Resumen

This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2025-05
    Etapa
    : Norma Internacional publicada [60.60]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 14
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 202/SC 1
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