• Фильтр:

  •  
  •  
  •  
  •  
Стандарт и/или проект находящийся в компетенции ISO/TC 202/SC 4 Секретариата Этап ICS
ISO 16700:2004
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
95.99
ISO 16700:2016
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
60.60
ISO/FDIS 20171
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Tagged image file format for scanning electron microscopy(TIFF/SEM)
50.98
ISO/DTS 21383
Qualification of the scanning electron microscope for quantitative measurements
30.92
ISO 21466
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Method for evaluating critical dimensions by CD-SEM
60.00
ISO/TS 24597:2011
Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness
90.93

По запросу ничего не найдено. Пожалуйста, попробуйте изменить настройки фильтра.