Подписаться на обновления
ISO 12406:2010
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия с вторичным ионом. Метод профилирования глубины местонахождения мышьяка в кремнии
Носитель и цена
| Цена | Язык | ||
|---|---|---|---|
| CHF 80,00 | Добавить в корзину | ||
| Paper | CHF 80,00 | Добавить в корзину |
-
Издание: 1 (Одноязычное) МКС: 71.040.40 Статус: Опубликован Стадия: 60.60 (2010-11-08) ТК/ПК: ISO/TC 201/SC 6 Количество страниц: 13 -
Информация о пересмотре отсутствует
-
Информация о поправках и дополнениях отсутствует
