Подписаться на обновления
ISO 16413:2013
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry -- Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
Носитель и цена
| Цена | Язык | ||
|---|---|---|---|
| CHF 128,00 | Добавить в корзину | ||
| Paper | CHF 128,00 | Добавить в корзину | |
| CHF 128,00 | Добавить в корзину |
-
Издание: 1 (Одноязычное) МКС: 35.240.70; 71.040.40 Статус: Опубликован Стадия: 60.60 (2013-02-12) ТК/ПК: ISO/TC 201 Количество страниц: 30 -
Информация о пересмотре отсутствует
-
Информация о поправках и дополнениях отсутствует
