Подписаться на обновления
ISO 9220:1988
Покрытия металлические. Измерение толщины покрытия. Метод применения растрового электронного микроскопа
This standard has been reviewed and then confirmed in 2010
More information
ISO standards are reviewed every five years
Close
Носитель и цена
| Цена | Язык | ||
|---|---|---|---|
| CHF 50,00 | Добавить в корзину | ||
| Paper | CHF 50,00 | Добавить в корзину |
-
Издание: 1 (Одноязычное) МКС: 25.220.40 Статус: Опубликован Стадия: 90.93 (2010-07-22) ТК/ПК: ISO/TC 107 Количество страниц: 5 -
Информация о пересмотре отсутствует
-
Информация о поправках и дополнениях отсутствует
