Главная

ISO/TS 17915:2013
Подписаться на обновления

Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования

 

  • Издание: 1 (Одноязычное) МКС: 31.260
    Статус: Опубликован Стадия: 60.60 (2013-06-25)
    ТК/ПК: ISO/TC 172/SC 9 Количество страниц: 27
  • Информация о пересмотре отсутствует

  • Информация о поправках и дополнениях отсутствует

Стандарты по этой же тематике

формат
  • PDF

    This format preserves the paper layout, and is watermarked

  • EPUB

    This format allows documents to be read on tablets and smartphones

  • COLOUR PDF

    Enhanced user-friendly colour PDF format

  • PAPER

    Normally A4 size documents. Shipping costs apply

Язык

+

PDF + ePub
Paper

Контакты службы поддержки клиентов

Отправьте ваш запрос по электронной почте
или позвоните нам по телефону +41 22 749 08 88  
09:00 – 12:30, 14:00 – 17:00 (UTC+1).