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| Norme et/ou projet | Stade | ICS |
|---|---|---|
| ISO 16242:2011 Analyse chimique des surfaces -- Enregistrement et notification des données en spectroscopie des électrons Auger (AES) | 60.60 | 71.040.40 |
| ISO 16243:2011 Analyse chimique des surfaces -- Enregistrement et notification des données en spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS) | 60.60 | 71.040.40 |
| ISO/TR 16268:2009 Analyse chimique des surfaces -- Mode opératoire proposé pour certifier la dose aréique retenue dans un matériau de référence de travail produit par implantation d'ions | 60.60 | 71.040.40 71.040.30 |
| ISO 18116:2005 Analyse chimique des surfaces -- Lignes directrices pour la préparation et le montage des échantillons destinés à l'analyse | 90.93 | 71.040.40 |
| ISO 18117:2009 Analyse chimique des surfaces -- Manipulation des échantillons avant analyse | 60.60 | 71.040.40 |
| ISO 18516:2006 Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie d'électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons de rayons X -- Détermination de la résolution latérale | 90.92 | 71.040.40 |
| ISO/TR 19319:2013 Analyse chimique des surfaces -- Approche fondamentale pour la détermination de la résolution latérale et de la netteté par des méthodes à base de faisceau | 60.60 | 71.040.40 |