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71.040.40: Méthodes d'analyse chimique

Y compris analyse des gaz et analyse chimique des surfaces

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Norme et/ou projetStade TC
ISO 78-2:1999
Chimie -- Plans de normes -- Partie 2: Méthodes d'analyse chimique
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 758:1976
Produits chimiques liquides à usage industriel -- Détermination de la masse volumique à 20 degrés C
90.93 ISO/TC 47
ISO 759:1981
Liquides organiques volatils à usage industriel -- Détermination du résidu sec après évaporation sur bain d'eau -- Méthode générale
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 760:1978
Dosage de l'eau -- Méthode de Karl Fischer (Méthode générale)
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 918:1983
Liquides organiques volatils à usage industriel -- Détermination des caractéristiques de distillation
90.93 ISO/TC 47
ISO 2590:1973
Méthode générale de dosage de l'arsenic -- Méthode photométrique au diéthyldithiocarbamate d'argent
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 2718:1974
Plan normalisé de méthode d'analyse chimique par chromatographie en phase gazeuse
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 3165:1976
Échantillonnage des produits chimiques à usage industriel -- Sécurité dans l'échantillonnage
90.93 ISO/TC 47
ISO 5790:1979
Produits chimiques inorganiques à usage industriel -- Méthode générale de dosage des chlorures -- Méthode mercurimétrique
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO/FDIS 6141
Analyse des gaz -- Contenu des certificats des mélanges de gaz pour étalonnage
50.20 ISO/TC 158
ISO 6141:2000
Analyse des gaz -- Prescriptions relatives aux certificats de gaz et mélanges de gaz pour étalonnage
90.92 ISO/TC 158
ISO 6142:2001
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage -- Méthode gravimétrique
90.92 ISO/TC 158
ISO 6142:2001/Amd 1:2009
Introduction de liquides
60.60 ISO/TC 158
ISO/DIS 6142-1
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage -- Partie 1: Méthode gravimétrique des mélanges Classe I
40.60 ISO/TC 158
ISO 6143:2001
Analyse des gaz -- Méthodes comparatives pour la détermination et la vérification de la composition des mélanges de gaz pour étalonnage
90.93 ISO/TC 158
ISO 6144:2003
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage -- Méthode volumétrique statique
90.93 ISO/TC 158
ISO 6145-1:2003
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 1: Méthodes d'étalonnage
90.92 ISO/TC 158
ISO 6145-2:2014
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 2: Pompes à piston
60.60 ISO/TC 158
ISO 6145-4:2004
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 4: Méthode continue par seringue d'injection
90.60 ISO/TC 158
ISO 6145-5:2009
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 5: Dispositifs d'étalonnage par capillaires
90.93 ISO/TC 158
ISO/WD 6145-6
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 6: Orifices critiques
20.20 ISO/TC 158
ISO 6145-6:2003
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 6: Orifices critiques
90.92 ISO/TC 158
ISO 6145-7:2009
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 7: Régulateurs thermiques de débit massique
90.93 ISO/TC 158
ISO 6145-8:2005
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 8: Méthode par diffusion
90.93 ISO/TC 158
ISO 6145-9:2009
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 9: Méthode par saturation
90.93 ISO/TC 158
ISO 6145-10:2002
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 10: Méthode par perméation
90.93 ISO/TC 158
ISO 6145-11:2005
Analyse des gaz -- Préparation des mélanges de gaz pour étalonnage à l'aide de méthodes volumétriques dynamiques -- Partie 11: Génération électrochimique
90.93 ISO/TC 158
ISO 6206:1979
Produits chimiques à usage industriel -- Échantillonnage -- Vocabulaire
90.93 ISO/TC 47
ISO 6227:1982
Produits chimiques à usage industriel -- Méthode générale de dosage des ions chlorure -- Méthode potentiométrique
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 6228:1980
Produits chimiques à usage industriel -- Méthode générale de dosage, à l'état de sulfate, de traces de composés soufrés, par réduction et titrimétrie
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 6382:1981
Méthode générale de dosage du silicium -- Méthode spectrophotométrique au molybdosilicate réduit
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO 6685:1982
Produits chimiques à usage industriel -- Méthode générale de dosage du fer -- Méthode spectrophotométrique à la phénanthroline-1,10
90.20 ISO/TC 47/SC 1
ISO/DIS 7504
Analyse des gaz -- Vocabulaire
40.60 ISO/TC 158
ISO 7504:2001
Analyse des gaz -- Vocabulaire
90.92 ISO/TC 158
ISO 8213:1986
Produits chimiques à usage industriel -- Techniques de l'échantillonnage -- Produits chimiques solides de petite granulométrie et agglomérats grossiers
90.93 ISO/TC 47
ISO 10810:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Lignes directrices pour l'analyse
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 11039:2012
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie par sonde à balayage -- Mesurage du taux de dérive
60.60 ISO/TC 201/SC 9
ISO 11505:2012
Analyse chimique des surfaces -- Modes opératoires généraux pour le profilage en profondeur compositionnel quantitatif par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
60.60 ISO/TC 201/SC 8
ISO/DIS 11775
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination de constantes normales en porte-à-faux de ressort
40.99 ISO/TC 201/SC 9
ISO 11952:2014
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
90.92 ISO/TC 201/SC 9
ISO/DIS 11952
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Détermination des quantités géométriques en utilisant des microscopes à sonde à balayage: Étalonnage des systèmes de mesure
40.99 ISO/TC 201/SC 9
ISO 12406:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Dosage de l'arsenic dans le silicium par profilage d'épaisseur
60.60 ISO/TC 201/SC 6
ISO/CD 12963
Analyse des gaz -- Méthodes de comparaison pour la détermination de la composition des mélanges de gaz basent sur un ou deux points d'étalonnage
30.99 ISO/TC 158
ISO/DIS 13083
Analyse chimique des surfaces - Microscopie à sonde à balayage - Normes sur la définition et l'étalonnage de la résolution spatiale des microscopes électriques à sonde à balayage (ESPMs) comme SSRM et SCM pour l'imagerie 2D-dopant et d'autres fins
40.99 ISO/TC 201/SC 9
ISO 13084:2011
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Étalonnage de l'échelle de masse pour un spectromètre de masse des ions secondaires à temps de vol
60.60 ISO/TC 201/SC 6
ISO 13095:2014
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à balayage de sonde -- Procédure pour la caractérisation in situ des sondes AFM utilisées pour mesurer la nanostructure
60.60 ISO/TC 201/SC 9
ISO/CD TR 13096
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Guide pour décrire les propriétés de la sonde AFM
30.00 ISO/TC 201/SC 9
ISO 13424:2013
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons X -- Rapport des résultats de l'analyse de films minces
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO/TS 14167:2003
Analyse des gaz -- Aspects généraux de l'assurance qualité dans l'utilisation de mélanges de gaz pour étalonnage -- Lignes directrices
90.93 ISO/TC 158
ISO/TR 14187:2011
Analyse chimique des surfaces - Caractérisation des matériaux nanostructurés
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 14237:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Dosage des atomes de bore dans le silicium à l'aide de matériaux dopés uniformément
60.60 ISO/TC 201/SC 6
ISO/DIS 14606
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence
40.99 ISO/TC 201/SC 4
ISO 14606:2000
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence
90.92 ISO/TC 201/SC 4
ISO 14701:2011
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Mesurage de l'épaisseur d'oxyde de silicium
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 14706:2014
Analyse chimique des surfaces -- Détermination de la contamination en éléments à la surface des tranches de silicium par spectroscopie de fluorescence X à réflexion totale
60.60 ISO/TC 201
ISO 14707:2000
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente -- Introduction à son emploi
90.92 ISO/TC 201/SC 8
ISO/DIS 14707
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente -- Introduction à son emploi
40.60 ISO/TC 201/SC 8
ISO 14912:2003
Analyse des gaz -- Conversion des données de composition de mélanges gazeux
90.93 ISO/TC 158
ISO 14912:2003/Cor 1:2006
60.60 ISO/TC 158
ISO 14975:2000
Analyse chimique des surfaces -- Protocoles de l'information
90.93 ISO/TC 201/SC 3
ISO 14976:1998
Analyse chimique des surfaces -- Protocole pour le transfert des données
90.93 ISO/TC 201/SC 3
ISO/TS 15338:2009
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse à décharge luminescente (GD-MS) -- Introduction à l'utilisation
90.93 ISO/TC 201/SC 8
ISO 15470:2004
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons X -- Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 15471:2004
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie d'électrons Auger -- Description de certains paramètres relatifs à la performance instrumentale
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 15472:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectromètres de photoélectrons X -- Étalonnage en énergie
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 15796:2005
Analyse des gaz -- Investigation et traitement des biais analytiques
90.93 ISO/TC 158
ISO/TR 15969:2001
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur -- Mesurage de l'épaisseur bombardée
60.60 ISO/TC 201/SC 4
ISO 16129:2012
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons X -- Modes opératoires d'évaluation de la performance au jour le jour d'un spectromètre de photoélectrons X
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 16242:2011
Analyse chimique des surfaces -- Enregistrement et notification des données en spectroscopie des électrons Auger (AES)
60.60 ISO/TC 201/SC 2
ISO 16243:2011
Analyse chimique des surfaces -- Enregistrement et notification des données en spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS)
60.60 ISO/TC 201/SC 2
ISO/TR 16268:2009
Analyse chimique des surfaces -- Mode opératoire proposé pour certifier la dose aréique retenue dans un matériau de référence de travail produit par implantation d'ions
60.60 ISO/TC 201/SC 2
ISO 16413:2013
Évaluation de l'épaisseur, de la densité et de la largeur de l'interface des films fins par réflectrométrie de rayons X -- Exigences instrumentales, alignement et positionnement, rassemblement des données, analyse des données et rapport
60.60 ISO/TC 201
ISO 16531:2013
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur -- Méthodes d'alignement du faisceau d'ions et la mesure associée de densité de courant ou de courant pour le profilage d'épaisseur en AES et XPS
60.60 ISO/TC 201/SC 4
ISO 16664:2004
Analyse des gaz -- Manutention des gaz et des mélanges de gaz pour étalonnage -- Lignes directrices
90.93 ISO/TC 158
ISO 16962:2005
Analyse chimique des surfaces -- Analyse des revêtements métalliques à base de zinc et/ou d'aluminium par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
90.92 ISO/TC 201/SC 8
ISO/WD 16962
Analyse chimique des surfaces -- Analyse des revêtements métalliques à base de zinc et/ou d'aluminium par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
20.20 ISO/TC 201/SC 8
ISO/DIS 17109
Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur -- Méthode pour la détermination de la vitesse de pulvérisation lors du profilage d'épaisseur par pulvérisation en spectroscopie de photoélectrons par rayons X, spectroscopie d'électrons Auger et spectrométrie de masse des ions secondaires à l'aide de films minces multicouches
40.99 ISO/TC 201/SC 4
ISO 17331:2004
Analyse chimique des surfaces -- Méthodes chimiques pour collecter les éléments analysés de tranches de silicium comme matériaux de référence pour l'analyse par spectroscopie de fluorescence X en réflexion totale (TXRF)
90.93 ISO/TC 201
ISO 17331:2004/Amd 1:2010
60.60 ISO/TC 201
ISO 17560:2014
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Dosage du bore dans le silicium par profilage d'épaisseur
60.60 ISO/TC 201/SC 6
ISO 17862:2013
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Linéarité de l'échelle d'intensité des analyseurs de masse à temps de vol pour comptage des ions individuels
60.60 ISO/TC 201/SC 6
ISO 17973:2002
Analyse chimique des surfaces -- Spectromètres d'électrons Auger à résolution moyenne -- Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 17974:2002
Analyse chimique des surfaces -- Spectromètres d'électrons Auger à haute résolution -- Étalonnage des échelles d'énergie pour l'analyse élémentaire et de l'état chimique
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 18114:2003
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Détermination des facteurs de sensibilité relative à l'aide de matériaux de référence à ions implantés
90.93 ISO/TC 201/SC 6
ISO 18115-1:2013
Analyse chimique des surfaces -- Vocabulaire -- Partie 1: Termes généraux et termes utilisés en spectroscopie
60.60 ISO/TC 201/SC 1
ISO 18115-2:2013
Analyse chimique des surfaces -- Vocabulaire -- Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage
60.60 ISO/TC 201/SC 1
ISO 18116:2005
Analyse chimique des surfaces -- Lignes directrices pour la préparation et le montage des échantillons destinés à l'analyse
90.93 ISO/TC 201/SC 2
ISO 18117:2009
Analyse chimique des surfaces -- Manipulation des échantillons avant analyse
60.60 ISO/TC 201/SC 2
ISO 18118:2004
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons -- Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes
90.92 ISO/TC 201/SC 7
ISO/DIS 18118
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons -- Lignes directrices pour l'utilisation de facteurs expérimentaux de sensibilité relative pour l'analyse quantitative de matériaux homogènes
40.99 ISO/TC 201/SC 7
ISO/DIS 18337
Analyse chimique des surfaces --
40.60 ISO/TC 201
ISO/TR 18392:2005
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons X -- Protocoles pour déterminer les fonds continus
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO/AWI TR 18394
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger -- Déduction de l'information chimique
20.00 ISO/TC 201/SC 7
ISO/TR 18394:2006
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger -- Déduction de l'information chimique
90.92 ISO/TC 201/SC 7
ISO/PRF TS 18507
Analyse chimique des surfaces -- Spécification technique pour l'utilisation de réflexion spectroscopie des rayons X de fluorescence totale dans l'analyse biologique et de l'environnement
50.00 ISO/TC 201
ISO/CD 18516
Analyse chimique des surfaces
30.99 ISO/TC 201/SC 2
ISO 18516:2006
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie d'électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons de rayons X -- Détermination de la résolution latérale
90.92 ISO/TC 201/SC 2
ISO/DIS 18554
Analyse chimique des surfaces - Spectroscopie d'électrons - Proceedures pour l'identification, l'estimation et la correction de la dégradation involontaire par rayons X pendant une analyse de matériau
40.20 ISO/TC 201/SC 7
ISO/DIS 19229
Analyse des gaz -- Analyse de pureté et traitement des données de pureté
40.60 ISO/TC 158
ISO 19318:2004
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons -- Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO/TR 19319:2013
Analyse chimique des surfaces -- Approche fondamentale pour la détermination de la résolution latérale et de la netteté par des méthodes à base de faisceau
60.60 ISO/TC 201/SC 2
ISO/CD 19830
Titre manque
30.99 ISO/TC 201/SC 7
ISO 20341:2003
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Méthode d'estimation des paramètres de résolution en profondeur à l'aide de matériaux de référence multicouches minces
90.93 ISO/TC 201/SC 6
ISO 20903:2011
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Méthodes utilisées pour la détermination de l'intensité des pics et informations requises pour l'expression des résultats
60.60 ISO/TC 201/SC 7
ISO 21079-1:2008
Analyse chimique des matériaux réfractaires contenant de l'alumine, de la zircone et de la silice -- Matériaux réfractaires contenant de 5 % à 45 % de ZrO2 (méthode alternative à la méthode par fluorescence de rayons X) -- Partie 1: Appareillage, réactifs et dissolution
90.93 ISO/TC 33
ISO 21079-2:2008
Analyse chimique des matériaux réfractaires contenant de l'alumine, de la zircone et de la silice -- Matériaux réfractaires contenant de 5 % à 45 % de ZrO2 (méthode alternative à la méthode par fluorescence de rayons X) -- Partie 2: Méthodes d'analyse chimique par voie humide
90.93 ISO/TC 33
ISO 21079-3:2008
Analyse chimique des matériaux réfractaires contenant de l'alumine, de la zircone et de la silice -- Matériaux réfractaires contenant de 5 % à 45 % de ZrO2 (méthode alternative à la méthode par fluorescence de rayons X) -- Partie 3: Méthodes par spectrométrie d'absorption atomique dans la flamme (FAAS) et spectrométrie d'émission atomique avec plasma induit par haute fréquence (ICP-AES)
90.93 ISO/TC 33
ISO 21270:2004
Analyse chimique des surfaces -- Spectromètres de photoélectrons X et d'électrons Auger -- Linéarité de l'échelle d'intensité
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 22048:2004
Analyse chimique des surfaces -- Protocole de l'information pour la spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) en mode statique
90.93 ISO/TC 201/SC 3
ISO/TR 22335:2007
Analyse chimique des surfaces -- Profilage en profondeur -- Mesurage de la vitesse de pulvérisation: méthode par empreinte de grille au moyen d'un profilomètre à stylet mécanique
60.60 ISO/TC 201/SC 4
ISO 23812:2009
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Méthode pour l'étalonnage de la profondeur pour le silicium à l'aide de matériaux de référence à couches delta multiples
90.93 ISO/TC 201/SC 6
ISO 23830:2008
Analyse chimique des surfaces -- Spectrométrie de masse des ions secondaires -- Répétabilité et constance de l'échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires
90.93 ISO/TC 201/SC 6
ISO 24236:2005
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger -- Répétabilité et constance de l'échelle d'énergie
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO 24237:2005
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie de photoélectrons par rayons X -- Répétabilité et constance de l'échelle d'intensité
90.93 ISO/TC 201/SC 7
ISO/TS 25138:2010
Analyse chimique des surfaces -- Analyse de films d'oxyde de métal par spectrométrie d'émission optique à décharge luminescente
90.93 ISO/TC 201/SC 8
ISO 27911:2011
Analyse chimique des surfaces -- Microscopie à sonde à balayage -- Définition et étalonnage de la résolution latérale d'un microscope optique en champ proche
60.60 ISO/TC 201/SC 9
ISO 28600:2011
Analyse chimique des surfaces -- Format de transfert de données pour la microscopie à sonde à balayage
60.60 ISO/TC 201/SC 3
ISO/TS 29041:2008
Mélanges de gaz -- Préparation gravimétrique -- Maîtrise des corrélations en composition
90.20 ISO/TC 158
ISO/TS 29041:2008/Cor 1:2009
60.60 ISO/TC 158
ISO 29081:2010
Analyse chimique des surfaces -- Spectroscopie des électrons Auger -- Indication des méthodes mises en oeuvre pour le contrôle et la correction de la charge
60.60 ISO/TC 201/SC 7