
Documents à afficher:
| Norme et/ou projet | Stade | ICS | TC |
|---|---|---|---|
| ISO 517:2008 Photographie -- Ouvertures et grandeurs associées relatives aux objectifs photographiques -- Désignations et mesurages | 90.93 | 37.040.10 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 8478:1996 Photographie -- Objectifs photographiques -- Mesurage du facteur spectral de transmission ISO | 90.93 | 37.040.10 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-1:2012 Optique et photonique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 1: Définitions, portée des essais | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-2:2002 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 2: Froid, chaleur et humidité | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-3:1998 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 3: Contraintes mécaniques | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-4:2002 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 4: Brouillard salin | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-5:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 5: Essais combinés froid-basse pression | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-6:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 6: Poussière | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-7:2005 Optique et photonique -- Méthodes d'essais environnementales -- Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-8:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 8: Haute pression, basse pression, immersion | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-9:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 9: Rayonnement solaire | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-11:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 11: Moisissures | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-12:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 12: Contamination | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-14:1994 Optiques et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 14: Rosée, givre, glace | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-17:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai d'environnement -- Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-18:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 18: Essai combiné chaleur humide-pression interne basse | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-20:1997 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-21:1998 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 21: Essai combiné basse pression et température ambiante ou chaleur sèche | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-22:2012 Optique et photonique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 22: Chaleurs sèche, froide ou changement de température combinés avec choc ou vibration aléatoire | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9039:2008 Optique et photonique -- Évaluation de la qualité des systèmes optiques -- Détermination de la distorsion | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9334:2012 Optique et photonique -- Fonction de transfert optique -- Définitions et relations mathématiques | 60.60 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9335:2012 Optique et photonique -- Fonction de transfert optique -- Principes et procédures de mesure | 60.60 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9336-1:2010 Optique et photonique -- Fonction de transfert optique -- Application -- Partie 1: Objectifs interchangeables pour appareils photographiques de 35 mm | 60.60 | 37.040.10 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9358:1994 Optique et instruments d'optique -- Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie -- Définitions et méthodes de mesure | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-1:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-6:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 6: Exigences d'essai pour les instruments optiques médicaux | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-7:2001 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 7: Spécifications d'essai pour instruments de mesure optiques | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-8:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-11:2001 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 11: Instruments optiques pour conditions d'utilisation en extérieur | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-12:2004 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 12: Conditions de transport des instruments optiques | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-1:2006 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 1: Généralités | 90.92 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-2:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 2: Imperfections des matériaux -- Biréfringence sous contrainte | 90.92 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-3:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 3: Imperfections des matériaux -- Bulles et inclusions | 90.92 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-4:1997 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 4: Imperfections des matériaux -- Hétérogénéités et stries | 90.92 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-5:2007 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 5: Tolérances de forme de surface | 90.92 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-6:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 6: Tolérances de centrage | 90.92 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-6:1996/Cor 1:1999 | 60.60 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-7:2008 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface | 90.92 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-8:2010 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation | 60.60 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-9:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 9: Traitement de surface et revêtement | 90.92 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-10:2004 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 10: Tableau représentant les données d'éléments optiques et d'assemblages collés | 90.93 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-11:1996 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 11: Données non tolérancées | 90.60 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-11:1996/Cor 1:2006 | 60.60 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-12:2007 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 12: Surfaces asphériques | 90.93 | 01.100.20 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-14:2007 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde | 90.93 | 37.020 01.100.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-17:2004 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | 90.93 | 37.020 01.100.20 31.260 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 11421:1997 Optique et instruments d'optique -- Exactitude du mesurage de la fonction de transfert optique (OTF) | 90.93 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 13653:1996 Optique et instruments d'optique -- Méthodes générales d'essai optique -- Méthode de mesurage de l'éclairement énergétique relatif dans le champ image | 90.93 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 14997:2011 Optique et photonique -- Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-1:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-2:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-3:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 14999-4:2007 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques -- Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110 | 90.92 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15368:2001 Optique et instruments d'optique -- Méthode de mesurage de la réflectance des surfaces planes et de la transmittance des éléments à plan parallèle | 90.93 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15529:2010 Optique et photonique -- Fonction de transfert optique -- Principes de mesure de la fonction de transfert de modulation (MTF) des systèmes de formation d'image échantillonnés | 60.60 | 17.180.01 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15795:2002 Optique et instrument d'optique -- Évaluation de la qualité des systèmes optiques -- Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques | 90.93 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15795:2002/Cor 1:2007 | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 16743:2013 Optique et photonique -- Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 25297-1:2012 Optique et photonique -- Transfert électronique des données optiques -- Partie 1: Modèle de données NODIF | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 25297-2:2011 Optique et photonique -- Transfert électronique des données optiques -- Partie 2: Mappage des classes et propriétés definies dans l'ISO 23584 | 60.60 | 37.020 | ISO/TC 172/SC 1 |