Y compris microscopes, télescopes, jumelles, systèmes, matériels et accessoires optiques
Instruments optiques de mesure, voir 17.180.30
Matériel ophtalmique, voir 11.040.70
Objectifs photographiques, voir 37.040.10
Documents à afficher:
| Norme et/ou projet | Stade | TC |
|---|---|---|
| ISO 8036:2006 Optique et photonique -- Microscopes -- Liquides d'immersion pour microscopie optique | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8037-1:1986 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Lames porte-objet -- Partie 1: Dimensions, propriétés optiques et marquage | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8037-2:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Lames porte-objet -- Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage | 90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO/DIS 8037-2 Microscopes -- Lames porte-objet -- Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage | 40.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8037-2:1997/Cor 1:2002 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO/DIS 8038 Microscopes -- Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants | 40.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8038:2011 Microscopes -- Filetages de fixation des objectifs et des porte-objectifs correspondants | 90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8039:2012 Microscopes -- Valeurs, tolérances et symboles de grossissement | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8040:2001 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Dimensions de liaison des tirettes et des logements de tirette | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8255-1:2011 Microscopes -- Lamelles couvre-objet -- Partie 1: Tolérances dimensionnelles, épaisseur et propriétés optiques | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO/FDIS 8255-2 Microscopes -- Lamelles couvre-objet -- Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage | 50.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8255-2:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Lamelles couvre-objet -- Partie 2: Qualité des matériaux, normes de finition et mode d'emballage | 90.92 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8576:1996 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Système de référence en microscopie de polarisation | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8577:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Filtres colorés | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8578:2012 Microscopes -- Marquage des objectifs et des oculaires | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8600-5:2005 Optique et photonique -- Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie -- Partie 5: Détermination de la résolution optique des endoscopes optiques rigides | 90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 8600-6:2005 Optique et photonique -- Endoscopes médicaux et dispositifs d'endothérapie -- Partie 6: Vocabulaire | 90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 9022-1:2012 Optique et photonique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 1: Définitions, portée des essais | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-2:2002 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 2: Froid, chaleur et humidité | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-3:1998 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 3: Contraintes mécaniques | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-4:2002 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 4: Brouillard salin | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-5:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 5: Essais combinés froid-basse pression | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-6:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 6: Poussière | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-7:2005 Optique et photonique -- Méthodes d'essais environnementales -- Partie 7: Résistance au ruissellement ou à la pluie | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-8:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 8: Haute pression, basse pression, immersion | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-9:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 9: Rayonnement solaire | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-11:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 11: Moisissures | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-12:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 12: Contamination | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-14:1994 Optiques et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 14: Rosée, givre, glace | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-17:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai d'environnement -- Partie 17: Essai combiné contamination-rayonnement solaire | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-18:1994 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 18: Essai combiné chaleur humide-pression interne basse | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-20:1997 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 20: Atmosphère humide contenant du dioxyde de soufre ou de l'hydrogène sulfuré | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-21:1998 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 21: Essai combiné basse pression et température ambiante ou chaleur sèche | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9022-22:2012 Optique et photonique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 22: Chaleurs sèche, froide ou changement de température combinés avec choc ou vibration aléatoire | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 9022-23 Optique et photonique -- Méthodes d'essais d'environnement -- Partie 23: Essais combinés basse pression et froid, température ambiante et chaleur sèche et humide | 40.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9039:2008 Optique et photonique -- Évaluation de la qualité des systèmes optiques -- Détermination de la distorsion | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 9211-1:2010 Optique et photonique -- Traitements optiques -- Partie 1: Définitions | 60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO 9211-2:2010 Optique et photonique -- Traitements optiques -- Partie 2: Propriétés optiques | 60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO 9211-3:2008 Optique et photonique -- Traitements optiques -- Partie 3: Durabilité environnementale | 90.93 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO 9211-4:2012 Optique et photonique -- Traitements optiques -- Partie 4: Méthodes d'essai spécifiques | 60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO 9336-3:1994 Optique et instruments d'optique -- Fonction de transfert optique -- Application -- Partie 3: Télescopes | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 9344:2011 Microscopes -- Réticules pour oculaires | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 9345-1:2012 Microscopes -- Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence -- Partie 1: Longueur de tubes de 160 mm | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 9345-2:2003 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Tirages mécaniques en fonction des plans mécaniques de référence -- Partie 2: Systèmes d'optique corrigés à l'infini | 90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 9358:1994 Optique et instruments d'optique -- Lumière parasite diffuse des systèmes d'imagerie -- Définitions et méthodes de mesure | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 10109 Titre manque | 40.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-1:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 1: Vue d'ensemble générale, termes et définitions, zones climatiques et leurs paramètres | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-4:2001 Optique et instruments d'optique -- Prescriptions d'environnement -- Partie 4: Prescriptions d'essai pour les systèmes télescopiques | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 10109-6:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 6: Exigences d'essai pour les instruments optiques médicaux | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-7:2001 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 7: Spécifications d'essai pour instruments de mesure optiques | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-8:2005 Optique et photonique -- Exigences environnementales -- Partie 8: Exigences d'essai pour conditions d'utilisation extrêmes | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-11:2001 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 11: Instruments optiques pour conditions d'utilisation en extérieur | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10109-12:2004 Optique et instruments d'optique -- Conditions d'environnement -- Partie 12: Conditions de transport des instruments optiques | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-1:2006 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 1: Généralités | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-2:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 2: Imperfections des matériaux -- Biréfringence sous contrainte | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-3:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 3: Imperfections des matériaux -- Bulles et inclusions | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-4:1997 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 4: Imperfections des matériaux -- Hétérogénéités et stries | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-5:2007 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 5: Tolérances de forme de surface | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 10110-5 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 5: Tolérances de forme de surface | 40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-6:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 6: Tolérances de centrage | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 10110-6 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 6: Tolérances de centrage | 40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-6:1996/Cor 1:1999 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-7:2008 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 7: Tolérances d'imperfection de surface | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-8:2010 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 8: État de surface; rugosité et ondulation | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-9:1996 Optique et instruments d'optique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 9: Traitement de surface et revêtement | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/WD 10110-9 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 9: Traitement de surface et revêtement | 20.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-10:2004 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 10: Tableau représentant les données d'éléments optiques et d'assemblages collés | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-11:1996 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 11: Données non tolérancées | 90.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-11:1996/Cor 1:2006 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-12:2007 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 12: Surfaces asphériques | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-12:2007/FDAmd 1 | 50.20 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-14:2007 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10110-17:2004 Optique et photonique -- Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 17: Seuil de dommage au rayonnement laser | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 10110-19 Optique et photonique -- Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques -- Partie 19: Surfaces quelconques optiques | 40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 10934-1:2002 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif à la microscopie -- Partie 1: Microscopie optique | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 10934-2:2007 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif à la microscopie -- Partie 2: Techniques avancées en microscopie optique | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 10935:2009 Microscopes -- Raccord d'interface de type C | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 10936-1:2000 Optique et instruments d'optique -- Microscopes chirurgicaux -- Partie 1: Exigences et méthodes d'essai | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 10936-2:2010 Optique et photonique -- Microscopes chirurgicaux -- Partie 2: Danger de la lumière provenant des microscopes opératoires utilisés en chirurgie oculaire | 60.60 | ISO/TC 172/SC 7 |
| ISO 10937:2000 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Diamètre d'oculaires interchangeables | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 11382:2010 Optique et photonique -- Matériaux et composants optiques -- Caractérisation des matériaux optiques utilisés dans la bande spectrale infrarouge de 0,78 µm à 25 µm | 60.60 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO 11882:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Raccord d'interface pour appareils photographiques SLR de 35 mm (adaptateur à filetage en T) | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 11883:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Marquage des stéréomicroscopes | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 11884-1:2006 Optique et photonique -- Exigences minimales pour les stéréomicroscopes -- Partie 1: Stéréomicroscopes à usage général | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 11884-2:2007 Optique et photonique -- Exigences minimales pour les stéréomicroscopes -- Partie 2: Microscopes à hautes performances | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 12853:1997 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Informations délivrées à l'utilisateur | 90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 13695:2004 Optique et photonique -- Lasers et équipement associé aux lasers -- Méthodes d'essai des caractéristiques spectrales des lasers | 90.93 | ISO/TC 172/SC 9 |
| ISO 14132-1:2002 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 1: Termes généraux et index alphabétiques des termes dans l'ISO 14132 | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14132-2:2002 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 2: Termes pour jumelles, monoculaires et lunettes | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14132-2:2002/Cor 1:2006 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14132-3:2002 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 3: Termes pour lunettes de pointage | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO/CD 14132-3 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 3: Termes pour lunettes de pointage | 30.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14132-4:2002 Optique et instruments d'optique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 4: Termes pour télescopes astronomiques | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14132-5:2008 Optique et photonique -- Vocabulaire relatif aux systèmes télescopiques -- Partie 5: Termes pour les dispositifs de vision de nuit | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14133-1:2006 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes -- Partie 1: Instruments d'usage général | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14133-2:2006 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour jumelles, monoculaires et lunettes -- Partie 2: Instruments haute performance | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14134:2006 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour télescopes astronomiques | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14135-1:2003 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour lunettes de pointage -- Partie 1: Instruments pour usage général | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO/CD 14135-1 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour lunettes de pointage -- Partie 1: Instruments pour usage général | 30.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO/CD 14135-2 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour lunettes de pointage -- Partie 2: Instruments haute performance | 30.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14135-2:2003 Optique et instruments d'optique -- Spécifications pour lunettes de pointage -- Partie 2: Instruments haute performance | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-1:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 1: Méthodes d'essai des caractéristiques fondamentales | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-2:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 2: Méthodes d'essai pour systèmes binoculaires | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO/WD 14490-3 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | 20.20 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-3:2004 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 3: Méthodes d'essai pour viseurs de tir | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-4:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 4: Méthodes d'essai pour télescopes astronomiques | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-5:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | 90.92 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO/WD 14490-5 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 5: Méthodes d'essai du facteur de transmission | 20.20 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-6:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 6: Méthodes d'essai de l'indice de lumière parasite | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-7:2005 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes télescopiques -- Partie 7: Méthodes d'essai pour limite de résolution | 90.93 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14490-8:2011 Optique et instruments d'optique -- Méthodes d'essai pour systèmes téléscopiques -- Partie 8: Méthodes d'essai pour dispositifs de vision de nuit | 60.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 14997:2011 Optique et photonique -- Méthodes d'essai applicables aux imperfections de surface des éléments optiques | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-1:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 1: Termes, définitions et relations fondamentales | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-2:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 2: Mesurage et techniques d'évaluation | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/TR 14999-3:2005 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et systèmes optiques -- Partie 3: Étalonnage et validation des équipements d'essai interférométrique | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 14999-4:2007 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques -- Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110 | 90.92 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 14999-4 Optique et photonique -- Mesurage interférométrique de composants et de systèmes optiques -- Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110 | 40.00 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15227:2000 Optique et instruments d'optique -- Microscopes -- Essai des stéréomicroscopes | 90.93 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 15362:1998 Optique et instruments d'optique -- Stéréo-microscopes -- Informations délivrées à l'utilisateur | 90.20 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 15795:2002 Optique et instrument d'optique -- Évaluation de la qualité des systèmes optiques -- Estimation de la dégradation de la qualité de l'image due à des aberrations chromatiques | 90.93 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 15795:2002/Cor 1:2007 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 15932 Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique analytique -- Vocabulaire | 40.99 | ISO/TC 202/SC 1 |
| ISO 16700:2004 Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique à balayage -- Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image | 90.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
| ISO/TR 16743:2013 Optique et photonique -- Capteurs de front d'onde pour caractérisation des systèmes optiques et des composants optiques | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO/DIS 17328 Optique et photonique -- Matériaux et composants optiques -- Méthode d'essai de l'indice de réfraction des matériaux optiques infrarouges | 40.20 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO/DIS 17411 Optique et photonique -- Matériaux et composants optiques -- Méthode d'essai d'homogénéité des verres optiques par interférométrie laser | 40.20 | ISO/TC 172/SC 3 |
| ISO/NP 18221 Microscopes -- Microscopes avec écrans d'affichage numérique -- Informations fournies à l'utilisateur concernant la performance d'affichage | 10.99 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 19012-1:2013 Microscopes -- Désignation des objectifs de microscope -- Partie 1: Planéité du champ/Plan | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 19012-2:2013 Microscopes -- Désignation des objectifs de microscope -- Partie 2: Correction chromatique | 60.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO/CD 19012-3 Microscopes -- Désignation des objectifs de microscope | 30.60 | ISO/TC 172/SC 5 |
| ISO 20473:2007 Optique et photonique -- Bandes spectrales | 90.60 | ISO/TC 172 |
| ISO 21094:2008 Optique et photonique -- Systèmes télescopiques -- Spécifications pour dispositifs de vision de nuit | 90.60 | ISO/TC 172/SC 4 |
| ISO 22493:2008 Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique à balayage -- Vocabulaire | 90.60 | ISO/TC 202/SC 1 |
| ISO 23584-1:2009 Optique et photonique -- Spécification d'un dictionnaire de référence -- Partie 1: Aperçu général sur l'organisation et la structure | 60.60 | ISO/TC 172 |
| ISO 23584-2:2012 Optique et photonique -- Spécification d'un dictionnaire de référence -- Partie 2: Définitions des classes et des propriétés | 60.60 | ISO/TC 172 |
| ISO/TS 24597:2011 Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique à balayage -- Méthodes d'évaluation de la netteté d'image | 60.60 | ISO/TC 202/SC 4 |
| ISO 25297-1:2012 Optique et photonique -- Transfert électronique des données optiques -- Partie 1: Modèle de données NODIF | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 25297-2:2011 Optique et photonique -- Transfert électronique des données optiques -- Partie 2: Mappage des classes et propriétés definies dans l'ISO 23584 | 60.60 | ISO/TC 172/SC 1 |
| ISO 29301:2010 Analyse par microfaisceaux -- Microscopie électronique en transmission analytique -- Méthodes d'étalonnage du grandissement d'image au moyen de matériaux de référence de structures périodiques | 60.60 | ISO/TC 202/SC 3 |
